全新设计的XTEST分析软件 软件内核包括基本参数法(FP),经验系数法(EC),可轻松分析各类样品。 光谱处理参数包括用于定义背景连续性,堆积峰和峰总和,平滑度以及测量到的峰背景光谱的数量 对吸收以及厚膜和薄膜二次荧光的完全校正,即所有基质效应,增强和吸收。 谱显示:峰定性,KLM标记,谱重叠比较,可同时显示多个光谱图 可以通过积分峰的净面积或使用测得的参考光峰响应,将光峰强度建模为高斯函数。 可以使用纯基本参数方法,具有分散比的基本参数(对于包含大量低Z材料的样品)或通过简单的小二乘拟合进行定量分析。 基本参数分析可以基于单个多元素标准,多个标准或没有标准的样品。
QCYQ-JS9000B矿石光谱分析仪是一种用于矿石样品的光谱分析仪器。它采用的光谱分析技术,能够快速、准确地分析矿石中的元素成分。
该分析仪具有以下主要特点:
1. :采用的光谱分析技术,能够实现的元素分析,能够检测到微量元素的存在。
2. 快速分析:具有快速分析的能力,仪器操作简便,能够在短时间内完成样品的分析。
3. 宽波长范围:能够在较大的波长范围内进行分析,可以满足不同矿石样品的分析需求。
4. 多元素
铁矿石光谱仪通常采用光栅光谱仪或干涉光谱仪的原理。样品通过样品室或探头被照射光源照射,样品会吸收特定波长的光,而其他波长的光则被反射或透射。这些吸收、反射或透射光会被光谱仪接收并分析。