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面向地区 |
全国 |
产品特点
1.小型化、、高速度、易操作，高灵敏度、分析
2.可同时分析40种元素
3.采用多准直器多滤光片和扣背景技术
4. Peltier电制冷 FAST SDD硅漂移检测器提供出色的短期重复性和长期再现性以及出色的元素峰分辨率
5.记数数字多道电路设计，双真空抽速机构，真空度自动稳定系统
6.标配基本参数法软件，多任务，多窗口操作
7.薄膜滤光片技术，有效提高轻元素检出限
全新设计的XTEST分析软件 软件内核包括基本参数法（FP），经验系数法（EC）,可轻松分析各类样品。 光谱处理参数包括用于定义背景连续性，堆积峰和峰总和，平滑度以及测量到的峰背景光谱的数量 对吸收以及厚膜和薄膜二次荧光的完全校正，即所有基质效应，增强和吸收。
谱显示：峰定性，KLM标记，谱重叠比较，可同时显示多个光谱图 可以通过积分峰的净面积或使用测得的参考光峰响应，将光峰强度建模为高斯函数。 可以使用纯基本参数方法，具有分散比的基本参数（对于包含大量低Z材料的样品）或通过简单的小二乘拟合进行定量分析。 基本参数分析可以基于单个多元素标准，多个标准或没有标准的样品。
矿石光谱分析仪能够快速、准确地分析矿石中的各种元素和化合物，帮助矿石开采和加工企业更好地了解矿石的成分和特性。它们可以在矿山现场或实验室中使用，提供实时的结果，帮助企业做出决策。
