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免费安装 提供化学分析方法
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产品特点 1.小型化、、高速度、易操作，高灵敏度、分析 2.可同时分析40种元素 3.采用多准直器多滤光片和扣背景技术 4. Peltier电制冷 FAST SDD硅漂移检测器提供出色的短期重复性和长期再现性以及出色的元素峰分辨率 5.记数数字多道电路设计，双真空抽速机构，真空度自动稳定系统 6.标配基本参数法软件，多任务，多窗口操作 7.薄膜滤光片技术，有效提高轻元素检出限
全新设计的XTEST分析软件 软件内核包括基本参数法（FP），经验系数法（EC）,可轻松分析各类样品。 光谱处理参数包括用于定义背景连续性，堆积峰和峰总和，平滑度以及测量到的峰背景光谱的数量 对吸收以及厚膜和薄膜二次荧光的完全校正，即所有基质效应，增强和吸收。 谱显示：峰定性，KLM标记，谱重叠比较，可同时显示多个光谱图 可以通过积分峰的净面积或使用测得的参考光峰响应，将光峰强度建模为高斯函数。 可以使用纯基本参数方法，具有分散比的基本参数（对于包含大量低Z材料的样品）或通过简单的小二乘拟合进行定量分析。 基本参数分析可以基于单个多元素标准，多个标准或没有标准的样品。
矿石光谱分析仪市场前景广阔。矿石是重要的资源，对于许多行业和国家的经济发展至关重要。光谱分析仪是一种的仪器，可以用于矿石的化学成分和结构分析，以及矿石质量的评估。
铁精粉光谱仪通常采用光学原理，包括可见光、红外光和紫外光等波长范围。它通过将样品暴露在特定波长的光下，测量样品对光的吸收、散射或发射等特性，然后根据这些特性获得样品的光谱信息。利用铁精粉光谱仪，可以对铁精粉样品的化学成分、晶体结构、杂质含量和物理性
铁矿石光谱仪通常采用光栅光谱仪或干涉光谱仪的原理。样品通过样品室或探头被照射光源照射，样品会吸收特定波长的光，而其他波长的光则被反射或透射。这些吸收、反射或透射光会被光谱仪接收并分析。
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