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常见的有色金属矿石检测设备包括：
1. X射线荧光光谱仪：通过测量矿石中元素发射的特定X射线能谱，确定矿石中金属元素的含量和比例。
2. 感应耦合等离子体质谱仪：利用等离子体产生的高温和离子化的条件，对矿石样品进行离子化和分析，以测量金属元素的含量和比例。
3. 电感耦合等离子体发射光谱仪。
·使用了的和多用途的x射线资料模式：采用康普顿常态化校正方法：可以利用“内部标准”来进行定量分析，而不需要进行的校正。基本参数：采用半定量分析方式，适合于检验各种不同元素的构成的结构密度不均匀的样品。实验校正法：利用“校正曲线”进行校正，允许使用用户产生的校正曲线。
·可以很容易地加入新的元素成份，很容易进行校正。因此，Innov-X a-4000分析仪能够满足您当前和未来的需求。
·可以在显示荧幕上观看光谱。
·通过对比光谱进行对比分析，显示出分析结果，分析结果将反映是否符合相应标准的情况。
·通过更新参数或更换模式，可以利用存储的试验结果再次进行新的试验。
·资料安全性：资料以二进位格式存储于设备中，以资料的完整性。
近红外光谱区域
由于不同的物质含有不同的基团，不同的基团有不同的能级，不同的基团或同一基团在不同物理化学环境中对近红外光的吸收波长都有明显差别，且吸收系数小，发热少，因此近红外光谱可作为获取信息的一种有效的载体。近红外光照射时，频率相同的光线和基团将发生共振现象，光的能量通过分子偶极矩的变化传递给分子；而如果近红外光的频率和样品的振动频率不相同，该频率的红外光就不会被吸收。因此，选用连续改变频率的近红外光照射某样品时，由于试样对不同频率近红外光的选择性吸收，通过试样反射后的近红外光线在某些波长范围内会变弱，这样红外光线就携带样品组分和结构的信息。通过检测器分析反射光线的光密度，就可以确定该组分的含量。
